用于TEM樣品制備

應(yīng)用范圍：適用于陶瓷、半導(dǎo)體、合金及薄膜截面樣品離子束減薄。適用于合金樣品表面氧化膜去除。運用該儀器制備的樣品中間的薄區(qū)可用于透射電鏡觀測

1. 離子減薄標(biāo)準(zhǔn)要求：厚度為三十微米，直徑為三毫米的薄片樣品直徑大于等于3mm，如需要切割，拋磨會加收費用；

2. 為保證達(dá)到滿意的效果，請下單前與技術(shù)顧問溝通樣品信息及制樣要求；

3. 注意：由于快遞郵寄有導(dǎo)致減薄后樣品損傷的風(fēng)險，所以一般不承接單獨離子減薄制樣；